同時(shí)，測量數(shù)據(jù)可分組保存，并實(shí)時(shí)顯示統(tǒng)計(jì)值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報(bào)警值、零校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)。全新的多點(diǎn)校準(zhǔn)和零校準(zhǔn)，讓您非常方便的隨時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單，確保您非常容易的使用它。

 

膜厚儀的特點(diǎn)：

A.大點(diǎn)陣液晶屏，標(biāo)準(zhǔn)化菜單操作；

B.兩種測量模式：單次和連續(xù)；

C.兩種組模式：直接組和通用組,一個(gè)直接組和四個(gè)通用組。直接組關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)自動(dòng)全部清除。通用組數(shù)據(jù)將自動(dòng)保存，關(guān)機(jī)不丟失。每組可存儲(chǔ)80個(gè)數(shù)據(jù)；

D.可零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)。各組有單獨(dú)的零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)，組與組之間不影響；

E.用戶可隨時(shí)查看當(dāng)前工作組已測得的數(shù)據(jù)，并刪除數(shù)據(jù)或整組數(shù)據(jù)；

F.實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前工作組統(tǒng)計(jì)值：平均值,較小值，Max值,標(biāo)準(zhǔn)方差；

G.三種探頭模式：自動(dòng)、磁感應(yīng)和渦流；

H.可為各組單獨(dú)設(shè)置高低限報(bào)警值，超*屏幕指示報(bào)警；

I.可開啟或關(guān)閉自動(dòng)關(guān)機(jī)功能；

J.USB接口可傳輸通用組數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)；

K.低電和錯(cuò)誤提示。

 

膜厚儀可以測量較大5層重疊薄膜的厚度和折射率。

可測量如氧化物，氮化物，光阻，導(dǎo)電玻璃，聚合物和半導(dǎo)體薄膜等透明或半透明薄膜。